首页：展商资讯丨合肥知常光电科技有限公司参展第105届中国电子展
发布时间：4.3.2025,来源：CEF组委会
第105届中国电子展将于4月9-11日在深圳会展中心举办，本届展览汇集以基础电子元器件为技术牵引，拓展智慧家庭、新型显示、大数据与存储等核心技术的应用创新。
同期举办中国电子信息博览会等多场电子行业活动，展览规划超30个主题展区，汇集超1000家展商，共同为产业发展助力，为企业腾飞加油。
展位号：9C228
EXHIBITOR PRESS
合肥知常光电科技有限公司
合肥知常光电科技有限公司成立于2012年3月，由海归人才与本土企业家联合创办。企业以光学及光电子技术为核心，致力于高端光机电一体化仪器、设备及装备的研发生产和销售。企业为国家高新技术企业、安徽省“专精特新”企业，建有安徽省超光滑表面无损检测重点实验室、安徽省光电精密测试技术工程研究中心（筹）、安徽省院士工作站、安徽省博士后科研工作站、合肥市企业技术中心等研发平台。
企业成立至今一直专注光学检测仪器与设备领域，深耕光学缺陷检测技术与设备研发，成功开发多款精密光学缺陷检测仪器与设备，在科学研究与工业化生产领域都得到了重要应用。
参展展品
碳化硅缺陷检测设备
碳化硅缺陷检测设备(NOVA-2000)，用于SiC抛光衬底片和同质外延片的缺陷检测，针对SiC缺陷的多样性设计专用多通道光学检测系统和缺陷自动检测分类算法，对微管、层错、三角形缺陷、台阶聚集等各类缺陷进行检出和提取分类，对SiC质量控制和工艺提升有显著作用。
参展展品
玻璃晶圆缺陷检测设备
玻璃晶圆缺陷检测设备(NOVA-2000-G)，是用于透明或半透明玻璃晶圆衬底的缺陷检测设备，可检出颗粒物、划痕、凹坑、凸起、崩边、裂纹等缺陷，对透明晶圆的质量控制具有重要作用。玻璃晶圆缺陷检测设备集成明场、暗场等多种检测模式，对各类缺陷提供可靠的缺陷信息，结合缺陷自动检测与分类算法，提取包括缺陷类型、尺寸、坐标、统计数据等在内的各项缺陷数据，生成晶圆缺检测报告供用户进行质量评估和判定。
参展展品
铌(钽)酸锂缺陷检测设备
铌(钽)酸锂缺陷检测设备(NOVA-2000-LN)，是用于铌酸锂、钽酸锂等衬底晶圆的缺陷检测设备，可兼容黑化、半黑化、全透明等不同工艺类型，可检出颗粒物、划痕、凹坑、凸起、崩边、裂纹等缺陷，对晶圆的质量控制具有重要作用。
铌(钽)酸锂缺陷检测设备(NOVA-2000-LN)集成明场、暗场等多种检测模式，对各类缺陷提供可靠的缺陷信息，结合缺陷自动检测与分类算法，提取包括缺陷类型、尺寸、坐标、统计数据等在内的各顶缺陷数据，生成晶圆缺陷检测报告，供用户进行质量评估和判定。
参展展品
图形晶圆缺陷检测设备
图形晶圆缺陷检测设备(AMM1-2000)，用于半导体制造的前道检测，对图形晶圆的宏观缺陷，如划痕颗粒脏污、腐蚀、图形结构缺陷等进行检测，对集成电路芯片的性能和可靠性保证有重要作用。AMMI-2000集成明场、暗场等多种检测模式，对图形晶圆各类缺陷提供可靠的缺陷信息，结合缺陷自动检测与分类算法，提取包括缺陷类型、尺寸、坐标、统计数据等在内的各项缺陷数据，生成晶圆缺陷检测报告供用户进行质量评估和判定，应用的场景有ADI(After Development Inspection，显影后检测)、APl(After Photoresist StripInspection，去胶后检测)、OQC(Outgoing Quality Control，出货质量控制)、AEl(After Etch Inspection，刻蚀后检测)。
参展展品
无图形晶圆缺陷检测设备
MSDI系列无图形晶圆缺陷检测设备，主要用于无图形晶圆表面缺陷的自动化检测，能够识别晶圆表面的颗粒物、污染、划伤、晶体原生凹坑等，具备缺陷分类、缺陷计数、空间分布等功能，可检测表面类型覆善Bare、Oxide、Nitride、 Metal等。
